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EEPROM三重测试

发表于:2020-06-23 查看:2005
标签:Microchip, EEPROM, 存储器

本视频介绍了Microchip为提供高品质EEPROM而执行的EEPROM三重测试,通过减少早期失效和老化失效来降低EEPROM的不良率。

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